16.常用的裂紋無損探測方法，如目視一光學探測法、滲透探測法、磁粉探測法、射線探測法、超音波探測法、聲發射探測法、渦流探測法等的優、缺點及適用範圍。
（1）目視一光學檢測法。在目視法的基礎上，採用各種光學儀器來擴大和延伸其檢測能力，便形成了目視一光學檢測法。這種方法能發現破損、變形、鬆動、 滲漏、磨損、腐蝕、變色、污穢、異物以及動作異常等多種故障，簡單易行，常常是精密診斷前預檢的主要方法。還可以對滲透、磁粉或其他無損探測法發現的缺陷 進行定性分析。
（2）滲透探測法。該方法是利用液體滲透的物理性能，首先使著色滲透液或螢光滲透液滲入機件表面開口的裂紋內，然後清除表面的殘液，用吸附劑吸出裂紋 內的滲透液，從而顯示出缺陷圖像的一種檢驗方法。這種方法可以檢驗鋼鐵、有色金屬、塑膠等製件表面上的裂紋，以及疏鬆、針孔等缺陷。該檢驗方法不需要大型 儀器，操作.方便，靈敏度高，適用於無電源、水源現場的檢驗。其缺點是不能檢驗機件的內部缺陷，對機件的表面粗糙度有一定要求，試劑對環境有一定污染。采 用螢光滲透液時得需要紫外燈，而且必須在暗室操作。
（3）磁粉探測法。這是一種利用鐵磁材料的磁性變化所建立的探測方法。這種探測法所用設備簡單，操作方便，檢測靈敏度較高，所顯示的磁粉痕跡與缺陷的 實際形式十分類似，而且適用於各種形狀的鋼鐵機件，這種探測法可以發現鐵磁材料表面和近表面的裂紋，以及氣孔、夾雜等缺陷。其缺點是這種探測法不能探測缺 陷的深度。進行磁粉探測後的被檢件具有剩磁，需要進行退磁處理，以便將被檢件的剩磁減少到最低限度。
（4）射線探測法。用強度均勻的x或r丁射線照射所檢測的物體，使透過的射線在照相底片上感光，通過對底片的觀察來確定缺陷種類、大小和分布狀況，按 照相應的標準來評價缺陷的危害程度。該方法多用來探測機件內部的氣孔、夾渣、鑄造孔洞等立體缺陷，當裂紋方向與射線平行時也能被探測出來。
射線探測法的優點是探測的圖像比較直觀，對缺陷尺寸和性質的判斷比較容易，而且探測結果可以記錄下來作為診斷檔案資料長期保存。其缺點是當裂紋面與射 線近於垂直時就難以探測出來，對微小裂紋的探測靈敏度低，探測費用較高，射線對人體有害，必須有防護措施。
（5）超音波探測法。此法是利用發射的高頻超音波（1—10mhx）射人被檢測物體的內部，如遇到內部缺陷則一部分射入的超音波在缺陷處被反射或衰減，然後經探頭接收後再放大，由
顯示的波形來確定缺陷的部位及其大小，再根據相應的標準來評定缺陷的危害程度。該方法可以探測垂直於超音波的金屬和非金屬材料的平面狀缺陷。可探測的 厚度大、檢測靈敏度高、儀器輕便、便於攜帶、成本低，可實現自動檢測，並且超音波對人體無害。其缺點是探測時有一定的近場盲區、探測結果不能記錄、探測中 採用的耦合劑易污染產品等。另外，超音波探測還需用成套的標準試塊和對比試塊調整儀器本身的性能和靈敏度。
（6）聲發射探測法。材料中裂紋的形成和擴展過程、不同相界面間發生斷裂以及複合材料內部缺陷的形成都能成為聲發射源。物體發射出來的每一個聲信號都 包含著反映物體內部缺陷性質和狀態變化的信息，接收這些信號，加以處理、分析和研究，從而推斷材料內部的狀態變化，這就是聲發射探測法。缺陷主動參與探測 是聲發射探測法與其他無損探測法的最大區別。
和常規的無損探測相比較，聲發射探測具有如下特點：
①聲發射探測時需對設備外加應力。它是一種動態檢測，提供的是載入狀態下缺陷活動的信息，因此聲發射法可更客觀地評價運行中設備的安全性和可靠性。
②聲發射靈敏度高，檢查覆蓋面積大，不會漏檢，可以遠距離監測。
③聲發射探測可在設備運行狀態中進行。